保定市新威電子科技有限公司
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1、超聲波探傷儀直探頭:進行垂直探傷用的單晶片超聲波探頭,主要用于縱波探傷。直探頭由插座、外殼、保護膜、壓電晶片、吸聲材料等組成,頭接觸面為可更換的軟膜,用于檢測表面粗糙的工件。
2、超聲波非金屬檢測用探頭:用于檢測非金屬材料,如混凝土、木材、巖石等。成對使用,一發(fā)一收,工作方式為透射式。鋁合金外殼,頻率從12.5KHz到250KHz,連接到探頭線的插座為Q9。
3、超聲波探傷儀可拆式斜探頭:斜探頭的一種特殊類型,將斜探頭分成斜塊、探頭芯兩個部分,使用時將兩者組合起來。常用的規(guī)格2.5P20的探頭芯、不同K值的斜塊。接受定制其他規(guī)格的可拆式斜探頭。
4、超聲波探傷儀斜探頭:進行斜射探傷用的超聲波探頭,主要用于橫波探傷。斜探頭由斜塊、壓電晶片、吸聲材料、外殼、插座等組成,斜探頭的聲束與探頭表面傾斜,因此可用于檢測直聲束無法到達(dá)的部位、或者缺陷的方向與檢測面之間存在夾角的區(qū)域。
5、超聲波探傷儀表面波探頭:用于發(fā)射和接收表面波的超聲波探頭。表面波是沿工件表面?zhèn)鞑サ牟ǎ惦S表面下的深度迅速減少,傳播速度是橫波的0.9倍,質(zhì)點的振動軌跡為橢圓。表面波探頭在被檢工件的表面和近表面產(chǎn)生表面波。
6、超聲波探傷儀雙晶探頭:裝有兩個晶片的探頭,一個作為發(fā)射器,另一個作為接收器。又稱分割式探頭、或者聯(lián)合雙探頭。雙晶探頭主要由插座、外殼、隔聲層、發(fā)射晶片、接收晶片、延遲塊等組成,使用垂直的縱波聲束掃查工件。相對直探頭而言,雙晶直探頭具有更好的近表面缺陷檢出能力;對于粗糙或者彎曲的檢測面,具有更好的耦合效果。
7、超聲波水浸式探頭:用于半自動或者自動化探傷系統(tǒng)中。當(dāng)超聲波探頭發(fā)射的聲束軸線垂直于檢測面時,縱波直聲束掃查工件;調(diào)節(jié)探頭聲束軸線與檢測面成一定的夾角,聲束在水和工件這兩種介質(zhì)的界面折射,可在工件中產(chǎn)生傾斜的橫波聲束來掃查工件。將探頭晶片前面的有機玻璃或者固化的環(huán)氧樹脂加工成一定弧度(球面或者圓柱面),可得到點聚焦或者線聚焦的水浸式探頭。
8、超聲波探傷儀小徑管探頭:單晶微型橫波斜探頭,用于小直徑薄壁管焊接接頭的檢驗。檢測標(biāo)準(zhǔn)參照電力行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)《管道焊接接頭超聲波檢驗技術(shù)規(guī)程》,適合檢測管徑≥32mm、小于等于159mm,壁厚≥4mm、小于14mm的小直徑薄壁管;也可適用于其他行業(yè)類似管道的檢測。探頭外形尺寸小,前沿距離≤5mm,始脈沖占寬≤1.5mm(相當(dāng)于鋼中深度),分辨力大于等于20dB。根據(jù)被檢測管道外徑的不同,檢測面被加工成對應(yīng)管徑的弧度。